전통적인 설계 원리에 따라 설계된 루프 저항 테스터(접촉 저항 테스터라고도 함)를 현장에서 테스트했을 때 공통적인 문제가 있음이 밝혀졌습니다.테스터의 전압 연결 회로가 접촉 불량 또는 개방 회로에 있을 때 테스터도 값을 표시하며 다음과 같은 상황이 발생합니다.
HV HIPOT GDHL-200A/100A 자동 루프 저항 테스터
(1) 전압 루프가 열려 있고 테스트 사이트에서 강한 전계 간섭이 없습니다.이 경우 증폭기에 의해 입력되는 차동모드 전압은 기본적으로 0이므로 계측기에 표시되는 테스트 값은 0에 가깝습니다. 테스터가 현장 테스트 경험이 충분하면 계측기 전압의 비정상 테스트 라인으로 판단할 수 있습니다. 회로가 비정상이며 기기 전압으로 돌아갑니다.비정상적인 테스트 경로를 제외하면 최종적으로 올바른 테스트 결과를 얻을 수 있습니다.
(2) 전압회로의 접촉이 불량하다.대부분의 경우 회로 차단기의 단자는 장기간 작동 후 단자 외부 표면에 산화막 또는 유막을 생성합니다.회로 저항기용 전압 테스트 클램프가 이러한 단자 스트립에 고정되면 접촉 불량이 발생할 수 있습니다.전압 테스트 클립 자체도 특정 접촉 저항을 생성하는 경우 접촉 저항 값은 전압 샘플링 회로의 내부 저항 값과 동일합니다.테스트 결과에 심각한 영향을 미칩니다.
(3) 전압 루프가 개방 회로이거나 접촉이 불량합니다(회로가 개방되면 접촉 저항 r1이 무한하다는 것을 알 수 있음), 라이브 버스와 같은 테스트 사이트에서 강한 전자기 간섭이 있습니다. .이때 라이브 버스는 공기를 매체로 하는 커패시터를 통과하여 테스터의 두 전압 테스트 라인을 방해합니다.간섭으로 인해 루프 저항 테스터의 전압 획득 라인은 2개입니다.차동 모드 전압은 끝에 나타납니다.
게시 시간: 2022년 5월 23일